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JEOL JSM-7600F 场发射扫描电子显微镜，成色良好，功能正常，配套电脑与操作系统，适用于高分辨率表面分析。

JEOL JSM-7600F 是一款高性能场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），采用场发射电子枪，具备极高的分辨率和宽广的加速电压范围，适合纳米级表面结构观察和分析。本设备为二手原装，经过专业检测，功能完好，配套控制电脑和操作系统，可直接投入使用。

主要参数与特点：

• 型号：JEOL JSM-7600F

• 电子枪：场发射电子枪（FEG）

• 分辨率：约 1.0 nm (15 kV)，更低电压下仍具备优良成像性能

• 放大倍率：10× – 1,000,000×

• 加速电压：0.1 – 30 kV

• 探测器：二次电子（SE）、背散射电子（BSE）

• 样品台：5轴电动样品台，支持多角度观察

• 配件：原装控制电脑、显示器、操作台

• 应用领域：材料科学、纳米科技、半导体检测、金属表面形貌、生物样品结构分析

设备状态：

• 成色：二手，保存良好

• 功能：已检测，运行正常

• 附件：配套电脑、控制台、显示器

• 软件：已安装 SEM 控制软件

应用范围：
科研实验室、高校研究所、工业检测中心，特别适合对纳米级结构和复杂表面进行高分辨率分析。