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Bruker Dimension Edge 原子力显微镜（AFM）是一款高性能纳米级表征设备，适用于材料科学、半导体、生物工程和精密制造领域。设备外观良好，运行正常，可搭配 Contour GT-K 光学轮廓系统使用，满足纳米级表面形貌表征需求。

产品介绍（Product Description）

Bruker Dimension Edge 原子力显微镜（AFM）是一款高性能的纳米级表征系统，被广泛应用于半导体制造、材料科学、生物工程、微机电系统（MEMS）以及精密加工领域。
该仪器具备卓越的扫描稳定性、极高的分辨率以及专业的结构设计，是 Bruker 品牌中性能优异的科研级 AFM 平台之一。

本产品为实物拍摄，设备外观整洁，运行状态良好。同时搭配 Contour GT-K 光学轮廓系统（型号：GTK1-11-1004），满足用户对三维光学轮廓测量、粗糙度分析及微结构表征的需求。

1. 产品特点（Key Features）

• ✓ 高精度原子力显微镜，可进行纳米级成像与表面分析

• ✓ 扫描稳定性强，重复性高，适用于精密科研

• ✓ 支持接触模式、轻敲模式、非接触模式等多种扫描方式

• ✓ 图中搭配 Contour GT-K 光学轮廓系统，可扩展光学 3D 表面测量功能

• ✓ 设备结构完好，外观维护良好

• ✓ 适用于材料、半导体、生物医学及光学工程等多个领域

2. 技术规格（Technical Specifications）

• 制造商： Bruker Corporation

• 仪器型号： Dimension Edge AFM

• 光学轮廓系统： Contour GT-K（型号 GTK1-11-1004）

• 电源参数（来自铭牌）：
  +5V / 10A
  +12V / 5A
  –12V / 1A
  +24V / 2A
  最大功率：110W

• 制造地信息： Tucson, Arizona, USA

• 认证： TÜV、CE、EN 61010-1

3. 适用领域（Supported Applications）

• 半导体晶圆表面缺陷与结构分析

• 纳米薄膜、纳米材料、微结构测量

• 聚合物、生物材料、涂层表面表征

• MEMS 微机电系统测试

• 纳米制造工艺验证

• 光学器件的表面粗糙度及三维形貌分析

• 高校科研、国家重点实验室、企业研发中心

4. 包含内容（Included Items）

• ✓ Bruker Dimension Edge 原子力显微镜

• ✓ Contour GT-K 光学轮廓系统控制器（GTK1-11-1004）

• ✓ 连接线缆、电源模块（以照片所示为准）

• ✓ 完整功能的扫描头与控制系统

5. 状态说明（Condition Description）

本设备经专业人员检查，整体状态良好：

• 仪器可正常通电与启动

• 各按键、接口、结构件均完好

• 控制模块响应正常

• 实验室环境存放，无严重磨损

• 设备适合继续用于科研、教学或翻新项目

6. 测试与检查说明（Test & Inspection Notes）

• 仪器通过开机自检

• 光学轮廓控制模块可正常通讯

• 机械结构完好，无异常噪音

• 用户可根据自身实验需求进行进一步校准

• 实拍图片真实反映仪器状态

7. 选择本设备的理由（Why Choose This Instrument）

• Bruker 是全球领先的纳米测量与表征设备品牌

• Dimension Edge 属于高端 AFM 系列，性能卓越

• 适合科研院所、材料实验室和工业研发中心

• 比购买新设备节省大量成本

• 可用于设备扩展、产线升级或研究项目提升能力

描述结束（End of Description）