本设备为美国 Digital Instruments / Veeco Dimension 3100 原子力显微镜系统,配套 Signal Access Module III 信号接入模块。
适用于科研级纳米尺度测量与材料表征。
设备成色良好,功能正常,实物拍摄。
接触模式
轻敲模式(Tapping Mode)
非接触模式
PFM 压电响应显微
纳米压痕
弹性模量测试
表面粗糙度分析
纳米结构成像
控制器信号输出接口
高低压信号输出
外部数据访问
RS232 通讯接口
便于科研扩展与二次开发
纳米材料研究
半导体检测
薄膜材料分析
高分子材料力学测试
铁电材料 PFM 研究
精密表面测量
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