工控产品

日本ULVAC（爱发科）CRTM-6000型膜厚仪（薄膜沉积监控器），用于真空镀膜及溅射工艺中的膜厚实时监测与控制，是薄膜制程中的关键控制设备。

该设备通过石英晶体振荡原理（QCM），实时测量沉积速率及膜厚变化，实现高精度镀膜控制，广泛应用于半导体、光学镀膜、真空蒸镀及溅射工艺中。

本设备为日本原装拆机件，功能完好，屏幕显示清晰，按键灵敏，整体成色如图，适合设备维修、更换或实验使用。

产品特点

• 品牌：ULVAC（爱发科）

• 型号：CRTM-6000

• 类型：膜厚仪 / 膜厚监控器

• 测量原理：石英晶体微天平（QCM）

• 实时显示膜厚及沉积速率

• 高稳定性与高精度测量

• 操作界面简洁，支持参数设置

技术参数（参考）

产品信息

• 型号：CRTM-6000

• 序列号：00444

• 产地：日本

应用领域

• 真空镀膜设备

• 半导体制造

• 光学镀膜

• PVD / 蒸发镀膜

• 磁控溅射

注意事项

• 拆机件，非全新

• 未校准测试

• 建议专业人员安装调试