工控产品

本产品为Bruker原子力显微镜（AFM）导电原子力模块（CAFM Module），适用于Dimension Icon系列及MultiMode系列原子力显微镜系统。

CAFM模块（Conductive Atomic Force Microscopy）用于实现纳米尺度下的导电性能测量，可同步获取样品的表面形貌及局部电学特性，是材料科学、半导体研究及纳米技术领域的重要分析工具。

该模块为精密科研设备组件，适用于设备升级、功能扩展及维修替换。

产品特点

• 原装CAFM导电模块

• 支持纳米级电流测量

• 高灵敏度电学信号采集

• 与Bruker AFM系统高度兼容

• 结构精密，稳定性高

适用设备

• Bruker Dimension Icon AFM

• Bruker MultiMode AFM
  （具体兼容性可提供型号确认）

功能说明

• 导电原子力显微测量（C-AFM）

• 表面形貌 + 电流同步测量

• 局部电导率分析

• 纳米尺度电学成像

技术参数（参考）

应用领域

• 半导体材料研究

• 纳米材料分析

• 薄膜导电性能测试

• 电子器件研发

• 科研实验室

注意事项

• 属于高精密科研设备组件

• 建议由专业人员安装调试

• 购买前请确认设备型号